一款产品投入使用之前，要先检测其是否安全、可靠、稳定，以验证在未来的使用环境中的真实运行状况。特别是一些重要的领域，一个细微的差错，都会引起重大损失，威胁人民的生命财产安全

高低温测试对产品有什么影响

高温对产品如老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁移、熔化、汽化变形等，通常周围环境每上升10℃，产品寿命就会减少到四分之一；当周围环境温度上升20℃，产品寿命就会减少一半，产品寿命遵循“10℃规则”，因而高温试验作为常用的试验，用于元器件和整机的筛选、老化试验、寿命试验、加速寿命试验，同时在失效分析的验证上起重要作用。

同样的，低温也对产品如脆化、结冰、粘度增大、固化、机械强度的降低及物理性收缩等，低温试验用于考核产品在低温环境下贮存和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验等。

高低温测试方法：

1、在样品断电的状态下，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，先将试验箱(室)内温度下降到-50℃，保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生 20℃以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。

2、低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到90℃的高温试验箱(室)内，保持4h或者直至试验样品达到温度稳定，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后，执行A、B测试步骤。

3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。

4、高温和低温测试分别重复10次。

5、重复上述实验方法，以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

6、恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

7、后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。